iPhone 17 Pro/Max渲染圖曝光：Logo下移 磁圈開口

iPhone 17 Pro系列曝光新設計細節

近日，推主@MajinBuOfficial在社交媒體上分享了一張渲染圖，展示了蘋果iPhone 17 Pro和iPhone 17 Pro Max佩戴手機殼後的效果。從圖片可見，新一代iPhone的外觀設計有著明顯調整。

蘋果LOGO位置下移影響整體結構

根據曝光的渲染圖顯示，iPhone 17 Pro和iPhone 17 Pro Max的背面蘋果LOGO位置有所下移，這也導致MagSafe磁圈進行了相應調整。原本的閉環設計被取消，改為更靈活的開口設計。

MagSafe系統同步優化

MagSafe系統自iPhone 12推出以來，一直依賴精準的磁鐵陣列來實現對齊與配件兼容。隨著蘋果標誌位置的下移，磁鐵陣列也隨之移向底部中心。

強化美學設計與功能性

新的MagSafe設計在底部中心預留了一個開口，目的是突出重新定位的蘋果標誌，並避免其被遮擋。雖然這項調整主要是美學上的變動，但磁圈位置的改變可能需要對磁場進行微調，以確保功能穩定性。